Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott (ISBN: 9781493966745)

Spuneți-vă părerea!

Alertă preţ Comparare

Magazin online

607,00 RON Detaliat

Magazine şi preţuri

Oferte pentru produsul Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott (ISBN: 9781493966745)

Ofertele pentru produsul

(3829 pareri)

Informaţii magazin

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott

607,00 RON

Livrare gratuita

Livrare: max 2 sapt.

spre magazin »

libristo.ro

Garantie Cumparare

Cumpara direct de pe Compari.ro fara probleme!

Serviciul nostru Garantie de achizitie se aplica tuturor comenzilor plasate direct prin intermediul site-ului Compari.ro prin accesarea butonului „Cumpara”.

Credem ca cumparaturile cu noi sunt fara probleme, asa ca nu ne este frica sa garantam acest lucru.

90 de zile returnarea produsului

Produsul a carui ambalaj este nedeteriorat si nedeschis poate fi returnat in termen de 90 de zile, iar comerciantul va rambursa pretul produsului.
Pret garantat

Va garantam ca nu exista costuri ascunse. Veti primi produsul la pretul la care l-am confirmat.
Banii Dvs. sunt in siguranta

Daca cumparati prin Compari.ro, nu va veti pierde banii. Daca produsul comandat nu ajunge, va vom rambursa suma achitata si vom prelua administrarea ulterioara cu magazinul online partener.
Fara probleme cu produsul comandat

Daca primiti un produs deteriorat sau altul decat cel pe care l-ati comandat, va vom ajuta sa rezolvati situatia creata cu comerciantul si va vom despagubi orice daune cauzate.
Nu exista intrebari fara raspuns

Va vom ajuta sa comunicati cu comerciantul. Ne poti contacta oricand cu intrebarile Dvs, iar in cazul unei reclamatii va vom ajuta sa o solutionati

Cumpara

Spre magazin »

Caracteristici, descrierea produsului - Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott (ISBN: 9781493966745)

Autor

Dale E. Newbury, David C. Joy, John Henry J. Scott, Joseph Goldstein, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie

Limba: engleză, Legare: Copertă tare, Număr pagini: 550, Editura: Springer-Verlag New York Inc. , Autor: Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, ISBN-13: 9781493966745, Data emiterii: 2017
Descriere detaliată Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott (ISBN: 9781493966745) »

Descrierea produsului

Autor

Dale E. Newbury, David C. Joy, John Henry J. Scott, Joseph Goldstein, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie

Ați găsit greşeli în descrierea produsului? Vă rugăm să ne trimiteți o notificare!

Păreri

Intrebari&Raspunsuri

Prețurile și informațiile de pe paginile noastre sunt furnizate de magazinele partenere și au caracter informativ, unele erori pot apărea. Imaginile produselor au caracter informativ, uneori pot include niște accesorii care nu sunt mereu incluse în pachetul de baza. Informațiile aferente produsului (imagine, descriere, preț) se pot schimba fără notificare prealabilă. Compari.ro nu își asumă responsabilitate pentru eventualele greșeli.